کتابخانه دیجیتال دانشگاه هنر اصفهان | THE APPLICATION OF TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (ToF-SIMS) TO THE CHARACTERIZATION OF OPAQUE ANCIENT GLASSES*.

THE APPLICATION OF TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (ToF-SIMS) TO THE CHARACTERIZATION OF OPAQUE ANCIENT GLASSES*.

پدیدآورنده

نام

THE APPLICATION OF TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (ToF-SIMS) TO THE CHARACTERIZATION OF OPAQUE ANCIENT GLASSES*.

زبان اثر

انگلیسی

شناسگر

10.1111/j.1475-4754.2008.00445.x (شماره مدرک)

10.1111_j.1475-4754.2008.00445.x (importid)

ناشر

تاریخ انتشار

2009

قالب (کتاب)

کتاب